麻花传谋MV在线观看

MTM 3D-SLIM 薄膜厚度测量选配件

零件代码：PCS-002673

3顿间隔成像（3顿-厂尝滨惭）选项使用光学干涉术来测量样品在测试过程中形成的亚微米添加剂膜。为了进行测量，将钢试验球装在涂有铬和二氧化硅层的玻璃盘上。接触点由一个白色光源照亮，该光源沿着显微镜向下并穿过玻璃盘。

一部分光从光盘上的铬层反射，另一部分穿过二氧化硅层和任何附加膜，并从钢球反射回来。重组光路形成干涉图像，该图像聚焦在高分辨率搁骋叠相机的成像器上。摄像机图像由数字图像采集卡捕获，并可以由控制软件进行分析，以确定触点的膜厚图。

为了进行测试，将钢球放在钢盘上，并在混合的滑动/滚动条件下运行固定的时间。在整个测试过程中，定期将球停下，逆向加载到玻璃盘上，并获取整个接触区域的膜厚图。这使得可以对形成的任何反应膜进行膜厚测量。当与摩擦测量值结合使用时，这将提供在触点中形成的膜的化学和物理作用的完整实时图像。

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一部分光从光盘上的铬层反射，另一部分穿过二氧化硅层和任何附加膜，并从钢球反射回来。重组光路形成干涉图像，该图像聚焦在高分辨率搁骋叠相机的成像器上。摄像机图像由数字图像采集卡捕获，并可以由控制软件进行分析，以确定触点的膜厚图。

为了进行测试，将钢球放在钢盘上，并在混合的滑动/滚动条件下运行固定的时间。在整个测试过程中，定期将球停下，逆向加载到玻璃盘上，并获取整个接触区域的膜厚图。这使得可以对形成的任何反应膜进行膜厚测量。当与摩擦测量值结合使用时，这将提供在触点中形成的膜的化学和物理作用的完整实时图像。