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骋狈搁，罢齿2000全反射齿荧光光谱仪，罢齿搁贵与贰顿齿搁贵的有机结合体

 骋狈搁，罢齿2000全反射齿荧光光谱仪，罢齿搁贵与贰顿齿搁贵的有机结合体

分析原理

TX2000 原理是基于X 荧光能谱法，但与 X 射线能谱形成对比的是“传统能谱采用原级 X 光束以 45°角轰击样品，而TXRF 采用毫弧度的临界角。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级 X 光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以一定程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声"。

仅需将一小滴样品（5-100uL 采用合适溶剂溶解的被测物质）放置在二氧化硅载体上，溶剂蒸发后形成一层厚度为几纳米的残留物，此时可以一定程度上消除来自于样品和样品基体产生的散射。由于残留物薄膜厚度极小，在还未产生基体影响时已经完成了检测工作，结合高功率 / 高分辨仪器，通过内标监控即可轻松完成多元素同时定量分析的工作。

仪器特点

★ 将全反射和传统的能量色散集成在同一台仪器上

★ 配备创新光学编码器的步进电机，保证精确角度测量

★ 采用双靶 (Mo/W) X 射线管，软件控制自动切换原始光束和轫致辐射

★ 高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器

★ 极小的样品与检测器间距，保证极低背景干扰和优异的灵敏度

★ 超出 50 余种元素的检出限低于 10pg

★ 氦气附件可以改善轻元素的检出限

★ 能谱仪采用全自动设计，操作者可以通过计算机控制全反射条件获得不同的能量源，控制单色器步进电机和射线管的开关

应用举例

环境分析：    水、灰尘、沉积物、大气悬浮物

制药分析：     生物体液和组织样品中的有害元素

法医学：     微小证据分析

化学纯度分析： 酸、碱、盐、溶剂、水、超纯试剂

油品分析：     原油、轻质油、燃料油

染料分析：     墨水、油漆、粉末半导体

材料分析：      挥发相分解

核材料工业： 放射性元素分析

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